万联芯申请集成电路版图设计优化专利，确保电迁移容限和信号完整性平衡评估

本文源自:金融界

金融界2024年12月24日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市万联芯科技有限公司申请一项名为“一种集成电路版图的设计优化方法及系统”的专利，公开号 CN 119167868 A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种集成电路版图的设计优化方法及系统，涉及集成电路的技术领域，该系统通过集中区域分析模块可以精确识别出电流密度异常区域，并根据这些区域内的信号互连态势数据，计算出电迁移容限系数 Drxs，通过版图设计分析模块，结合材料状态和属性数据，构建出信号干扰系数 Xgxs，并通过训练后的风险预测模型得出权衡评估指数 Qgzs，这一系列步骤确保了对电迁移容限和信号完整性之间的平衡状态进行精确评估。最后，优化管理模块通过将 Qgzs 与预设的评估阈值 Q 进行比对，能够准确判断当前设计是否达到了平衡状态。若不平衡，系统将自动发出优化命令，针对电迁移容限与信号完整性进行优化调整。